Fabricación y caracterización de películas delgadas de Alq3
DOI:
https://doi.org/10.17230/ingciencia.10.20.3Palabras clave:
película delgada, evaporación térmica, sustrato, caracterización, semiconductor orgánicoResumen
Películas delgadas de Alq3 (tris (8-hidroxiquinolato) de aluminio) se depositaron sobre vidrio mediante evaporación térmica con el fin de establecer las tasas de evaporación óptimas para depositar películas entre 30 a 120 nm sobre un sustrato a temperaturas entre 60 y 120°C. Las películas fueron caracterizadas mediante microscopía SEM y perfilometría para comparar el espesor obtenido in-situ mediante un cristal de cuarzo; adicionalmente se realizaron medidas de fotoluminiscencia.
PACS: 73.55.k2, 7855.-m, 06.60Sx, 07.30.Kf.
Video: https://www.youtube.com/watch?v=cEIQnNGtzlc
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