Transformada fraccional de Fourier en el caso de un plano imagen inclinado

Autores/as

  • C O Torres Grupo LOI, Universidad Popular del Cesar
  • L Mattos Grupo LOI, Universidad Popular del Cesar
  • C Jiménez Universidad de La Guajira
  • Jaime Castillo Pérez Universidad de La Guajira
  • Y Torres Docente investigador, grupo GOTS, Universidad Industrial de Santander

Palabras clave:

Difracción de Fresnel, plano imagen inclinado, transformada fraccional de Fourier.

Resumen

La conocida fórmula de difracción de Fresnel relaciona la distribución de amplitud compleja de una onda en el plano objeto (campo ondulatorio de entrada) con la distribución de amplitud compleja de la onda en el plano imagen(campo ondulatorio de salida) cuando se trata de propagación en el espaciolibre; esto significa que si los planos objeto e imagen son paralelos entre sí, el sistema imagen correspondiente se dice que es un sistema lineal invariantea desplazamiento (LSI). Esta propiedad ventajosa es esencial para el desarrollo de técnicas de imagen sensitivas a fase; sin embargo, si el plano imagen está inclinado con respecto al haz incidente, la distancia efectiva de propagación cambiará sobre el plano imagen, consecuentemente el sistema imagen será no invariante a desplazamiento. En este artículo es propuesta una extensión del formalismo de la difracción de Fresnel al caso de un plano imageninclinado utilizando la transformada de Fourier de orden fraccional.

MSC: 33D15, 33D90, 33D60, 34M03,  62E15

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Biografía del autor/a

  • C O Torres, Grupo LOI, Universidad Popular del Cesar
    Doctor en Ciencias físicas.
  • L Mattos, Grupo LOI, Universidad Popular del Cesar
    Magíster en Ingeniería electrónica.
  • C Jiménez, Universidad de La Guajira
    Magíster en Matemática aplicada.
  • Jaime Castillo Pérez, Universidad de La Guajira
    Magíster en Matemática aplicada.
  • Y Torres, Docente investigador, grupo GOTS, Universidad Industrial de Santander
    Docteur en Optique et Traitement du Signal.

Referencias

Robert A. Sprague. Surface Roughness Measurement Using White Light Speckle. Applied Optics, ISSN 0003–6935, 11(12), 2811–2816 (1972).

P. J. Chandley. Surface roughness measurements from coherent light scattering. Optical and Quantum Electronics, ISSN 0306–8919, 8(4), 323–327 (1976).

H. M. Pedersen. Object–roughness dependence of partially developed speckle patterns in coherent light . Optics Communications, ISSN 0030–4018, 16(1), 63–67 (1976).

H. Fuji, T. Asakura and Y. Shindo. Measurement of surface roughness properties by means of laser speckle techniques. Optics Communications, ISSN 0030–4018,16(1), 68–72 (1976).

Hitoshi Fujii and Toshimitsu Asakura. Roughness measurements of metal surfaces using laser speckle. Journal of the Optical Society of America B, ISSN 0740–3224, 67(9), 1171–1176 (1977).

Ulf Persson. Real time measurement of surface roughness on ground surfaces using speckle–contrast technique. Optics and Lasers in Engineering, ISSN 0143–8166, 17(2), 61–67 (1992).

Lisa C. Leonard and Vincent Toal. Roughness measurement of metallic surfaces based on the laser speckle contrast method. Optics and Lasers in Engineering, ISSN 0143–8166, 30(5), 433–440 (1998).

S. L. Toh, H. M. Shang and C. J. Tay. Surface–roughness study using laser speckle method. Optics and Lasers in Engineering, ISSN 0143–8166, 29(2–3), 217–225 (1998).

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Número

Sección

Artículos

Cómo citar

Torres, C. O., Mattos, L., Jiménez, C., Castillo Pérez, J., & Torres, Y. (2010). Transformada fraccional de Fourier en el caso de un plano imagen inclinado. Ingeniería y Ciencia, 6(12), 51-64. https://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/ingciencia/article/view/332

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