Identification by force modulation microscopy of nanoparticles generated in vacuum arcs

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Mauricio Arroyave Franco
Universidad EAFIT

Keywords

modulación de fuerza, fuerza atómica, nanogotas, TiN, Ti.

Resumen

En este trabajo se presenta un método alternativo basado en microscopia de modulación de fuerza (FMM), para la identificación de nanogotas producidas en el plasma generado por los spots catódicos de los arcos en vacío. La técnica FMM esta habilitada para la detección de variaciones en las propiedades mecánicas de una superficie, con alta sensibilidad. Se han analizado recubrimientos de nitruro de titanio (TiN) depositados sobre Silicio orientado por el proceso de arco en vacío pulsado. Se han obtenido simultáneamente imágenes de microscopia de fuerza atómica (AFM) y de microscopia FMM mediante las cuales se ha podido identificar la presencia de nanogotas. Adicionalmente se han tomado espectros de difracción de rayos X (XRD) de las muestras recubiertas. Se ha reportado la existencia de partículas contaminantes de 47 nanómetros de diámetro sobre los recubrimientos.

PACS: 42.79.Wc, 68.35.Gy

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Referencias

[1] B.K. Tay, X. Shi et al. Surface & Coatings Technology. 111, 229-233 (1999).

[2] M. Hakovirta, K.C. Walter, B. P. Wood and M. Nastasi. J. Vacuum Science Technology. A 17, 3077-3080 (1999).

[3] K. Miernik and J. Walkowicz. Surface & Coatings Technology. 125, 161-166 (2000).

[4] A. Anders. Surface & Coatings Technology. 120-121, 319-330 (1999).

[5] M. Keidar, R. Aharonov and I. I. J. Beilis. Vacuum Science Technology. A 17, 3067-3073 (1999).

[6] B. J¨utttner and V. F. Puchkarev. Cathode Spots in: R.L. Boxman, P. J. Martin and D. M. Sanders (Eds.), Handbook of Vacuum

[7] Arc Science and Technology, Noyes, NJ, 139 (1995).

[8] M. Arroyave, L. Álvarez y A. Devia. AIP Conferences Proceedings.

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Cómo citar
Arroyave Franco, M. (2006). Identification by force modulation microscopy of nanoparticles generated in vacuum arcs. Ingeniería Y Ciencia, 2(3), 65–71. Recuperado a partir de https://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/ingciencia/article/view/486
Número
Vol. 2 Núm. 3 (2006)
Sección
Artículos
Agencias de apoyo
COLCIENCIAS
Biografía del autor/a

Mauricio Arroyave Franco, Universidad EAFIT

Ingeniero electrónico

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